HALL8686-II.8888-II变温型霍尔效应测试仪

HALL8686-II变温型(温度范围：77K-425K)、HALL8888-II变温型(温度范围：77K-773K)；具有人性化的软件设计及模块化组件，性能卓越，操作方便；系统结合霍尔效应及van der pauw方法四点测量分析薄膜材料的电阻率，载流子浓度（N Type & P TYPE）及迁移率等相关参数信息，根据用户测试温度环境的不同

HALL8800-II常温及低温型霍尔效应测试仪

HALL8800-II常温(300K)及低温型(77K)，HALL系列霍尔效应测试仪具有人性化的软件设计及模块化组件，性能卓越，操作方便；系统结合霍尔效应及van der pauw方法四点测量分析薄膜材料的电阻率，载流子浓度（N Type & P TYPE）及迁移率等相关参数信息，根据用户测试温度环境的不同，可分为常温/低温型及变温型

PSAIC太阳能电池测试系统产品目录

普西工业融合电子技术、光电科技、资讯科技，以IP开发、演算法及软件研发、光电元件之特性研究、元件裝置及相关软件系統整合、云端服务进行技术创新

PSAIC系列探针台用金相显微镜产品目录

紧凑轻便的大平板底座结合粗微调同轴托架可适应各种环境下的显微观察，灵活精巧的设计使其可安装于大型机械设备，是观察大尺寸或较厚样品的理想选择。明亮舒适的大视野观察，清晰锐利的高品质图像，打破了以往目标搜索、测量和判断的局限性。创造性的结构设计，提供了超长的升降行程，以及稳定的观察环境，突破了传统显微镜对观察空间的限制。