直流/高频/射频探针产品目录

普西提供各类测试探针，包括：直流类软探针及硬探针，直针，弯针，高频类10~110GHz探针，同时可客制各种材料测试探针...

PSAIC-PPTS探针测试系统配置解决方案产品目录

半导体分立器件是组成集成电路的基础，包含大量的双端口或三端口器件，如二极管，晶体管，场效应管等。直流I-V测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的基石。通常使用I-V特性分析，或I-V曲线，来决定器件的基本参数。微电子器件种类繁多，引脚数量和待测参数各不相同，除此以外，新材料和新器件对测试设备提出了更高的要求，要求测试设备具备更高的低电流测试能力，且能够支持各种功率范围的器件。

PSAIC 4R四探针法测量半导体电阻率测试方案

电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数，为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况，需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率 测试方法有很多种，其中四探针法具有设备简单、操作方便、测量精度高以及对样品形状无严格要求的特点。目前检测半导体材料电阻率，尤其对于薄膜样品来说，四探针是最常用的方法。

PSAIC半导体材料及器件解决方案产品目录

专注半导体测试系主定制：晶圆在片自动测试系统/半导体产线分选测试系统/阵列器件测试 /介电特性测试系统/射频材料介电、损耗特性测试系统/太阳能电池测试系统/光电器件IV特性测试