四点探针薄膜测量方案简述：
● 人机界面式互动程序；
● 提供较大电阻值薄膜 (数百Mohm以上) 或较小电阻值薄膜 (数百Mohm 以下) 测量范围；
● 可控制 Keithley 2636 系列、Keithley 2400 系列或其他各品牌电性测量范围的电流源表进行整合；
● 可供输入电流或电压，作定电流或扫描电压测量；
● 可供输入探针的尺寸信息与薄膜厚度；
● 可量测出电阻、片电阻、电阻率与导电率等各种客制化特性；
● 可进行量测速度、杂讯处理、偏压...等各量测相关设定；
● 量测资料结果输出，可显示在软件界面中或存档，以便在Excel进行进一步资料处理；
● 量测图形结果可显示图形输出；
低电阻四探针电阻率测量系统
概述：
● X-Y样品滑台可手动快速/微调移动位置在固定点进行量测；
● 可进行ㄧ般直线型四点探针与霍尔Van Der Paul方式，获取电阻，片电阻，电阻率与导电率；
● 电阻量测模式支持DC扫描，正负电压（(Delta）与（PWM）等低热与电压补偿精确量测；
● 信号抗杂讯处理自针尖到仪器输入端电磁波屏蔽提高信噪比；
● 依据样品材质特性可选择不同探针；
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