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    半导体材料/器件测试解决方案
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    微型真空光学及探针测试冷热台
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    CRYOX-MC20微型真空测试探针台 

     

     

    产品特点

    超小产品体积,可兼容显微及拉曼系统使用。

    手动快速定位探针至待测点,操作便捷。

    同轴测试配置,探针漏电小于10pA。

    高精度直流温控系统,PID控制,最大程度降低系统电学测试噪声。

    温控系统可升级低温测试功能(TEC制冷和液氮制冷)。

     

    技术指标

    一、电学配置及系统参数

    1. 1英寸载物台(直径:25mm),带有温控功能

    2. 探针漏电精度:<10pA

            3. 测试接口:BNC同轴接头,4个

    4. 探针夹具及测试线缆组件:4套

    5. 探针:4根

    6. 测试电流范围:1nA~1A

    7. 最大测试电压:500V

    二、样品台及探针操作装置

            1.载物台

    1.1 样品台尺寸25mm,OFC材质,表面镀金(Type II)。

            2. 探针操作装置

    1. 数量:4套

    2. 手动位移探针,无需借助显微镜,适用于待测点尺寸在1mm或以上的样品扎针测试

    注:显微镜辅助扎探针,最小可适用于0.5*0.5mm待测点

    3. 操作方式:内置操作(点针组件位于真空腔体内部)

    三、真空系统

    1. 真空腔体:316L不锈钢

    2. 真空度:10^-3mbar,低温测试无凝露结霜

    3. 观察窗:石英玻璃

    观察窗顶面至样品台距离小于10mm

    4. 接口:

    4.1 真空接口:1/4 VCR 接头

    4.2 气体进入接口:1/4VCR 接头

    备注:用户可通过气体进入接口对真空腔内充入微量气体

    四、温控系统

           1、机械参数

    1.1 尺寸:1英寸

    1.2 材质:OFC

    1.3 表面镀层: TYPE II镀金

    1.4 平整度:≤10μm@25℃

     ≤30μm@200℃

     ≤40μm@300℃

           2、温控参数:

    2.1 温度范围:室温~200℃(可选其它)

    2.2 温控分辨率:0.1℃

    2.3 温度精度:±0.15+0.002*target temperature

    2.4 温度均匀性:±0.5℃@1 in. chuck

    2.5 升温时间:around 20min(室温至200℃)

    2.6 电源:220V 50Hz交流电

           3、电学性能:

           3.1 探针漏电:≤10pA

           3.2 载物台漏电:≤10nA

    五、光学系统

    N.A. 用户自备

    该系统可兼容用户拉曼系统,配置安装支架,可装于用户拉曼系统上使用

    六、探针

    针尖直径:20微米(可选其它)

    探针材质:钨,表面镀金处理

    数    量:10支(2盒)

    七、系统尺寸:

    外形尺寸:200mm*120mm*30mm

    腔体尺寸:150mm*90mm*30mm

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