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    显微光电二极体强度响应测试 

     
    简述:
    提供多种波长光源测试极微小晶片(60um)感光反应
    提供多种测试波段选择,亦可提供更换不同波段组件
    同步以摄影机监控量测过程
    可手动/自动对焦元件
    样品可控温常温~90度(其它温度范围可选)
    雷射最后一个透镜到样品的距离是12.5cm,即换算成光斑为25um
    波段选择可同时存在八种,预设波段为1550nm、1310nm、940nm、850nm、650nm五种
    光源功率全波段10~20mW,间隔0.1mW
    使用探针压pin量测,类似LED
    Keithley 2400量测电流
    250um size,收光区60um
    样品厚度100~350um ,wafer 2~4”,也有单一chip
     
    软件功能-可输出资料量测結果:
     
     
    软件功能-多点量测:
    可程式编辑功率量测范围
    自动量测以及分析slope、I1、I2与P2
    各点IC回分別存档
     
    流程图:

     

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