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    半导体材料/器件测试解决方案
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    LCD光学量测系统等开发案例[-OLED Flicker量测/-OLED光源色亮度均勻度/-OLED元件材料光电量测/-动态拖影量测-MPRT/-投影机光学系统/-用影像辉度仪监控灰辉度变化] 

    一、LCD光学量测系统

     

    二、投影机光学系统

    解决客戶所面临的问题:
    产线品质检验
    市面目前无适当的标准化设备
     
    协助用户建立:
    光学量测分析
    客制化软件
    整合人为判断与量测流程
    产品序号与特性记录上传-产线系统
     
     
     
    三、Display动态拖影量测-MPRT
     
     
    四、OLED 元件材料光电量测
    光电特性量测
    亮度及色度
    转换效率
    L-I-V
    漏电流量测
    光谱分析
    锋值计算
    半高宽计算
    自动量测切换多個元件
     
     
    五、OLED Flicker闪烁量测
    量测亮度随时间变化
    分析闪烁频率
    计算闪烁强度
     
     
    六、用影像辉度仪监控辉度色度变化
     
     
    七、OLED光源色亮度均匀度

     

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