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    半导体材料/器件测试解决方案
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    微型真空光学及探针测试冷热台
    光学及探针测试冷热台(可客制)
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    柔性可靠度测试-弯折.卷曲.扭曲(可结合光学或电性测试等) 
    弯曲测试:
    根据IEC 62715-6-1设计
    程式控制曲率半径
    不需夹持圆棒,避免压力
    可搭配Chamber
     
     
    动态性能测试:
    结合Rolling与Tension
     
    挠曲形貌变化:
    白线为刚折后Y轴形貌(影像中心)
    红 : 2分钟后 
    绿 : 4分钟后
    蓝 : 6分钟后
    黄 : 8 分钟后
    紫 : 19 分钟后
     
     
    注:详细产品配置信息请与我司联络
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