GGB Dual Microwave Probe(Model 40A, 50A, 67A, and 110H probes )-镨烽（苏州）仪器-普西工业[PRECISION SYSTEMS INDUSTRIAL LIMITED]

产品与方案 PRODUCT DISPLAY

电学测试类产品

半自动/全自动探针台

普西-其它半导体非标设备及配件加工：匀胶机（旋涂仪）+镀制金钢石线切割机+飞秒激光修调真空自动测试装置+半导体测试片/测试组件/精密零件/QFN、DFN、TSSOP、SOP、SOT、SOD、DIP测试片、测试爪SOT、各类DUT电路板、测试夹具（Test Socket）/测试模组及连接器/定制晶圆承载台（Wafer Chuck）

光学系统类产品

OLED/LCD/LED/触探面板/VR/AR及柔性显示器测试测量

半导体材料/器件测试解决方案

微型真空光学及探针测试冷热台

恒温器

探针台耗材.配件

各式Socket/Socket Adaptor

其它半导体工艺设备及仪器

实验室测试服务项目

IV-CV-HALL-C.SAM-EMMI-OBIRCH-X.Ray-OM等......

企业新闻 CORPORATE NEWS

我司推出光电特性检测分析/材料与膜层表面特性/可靠性测试/航太应用系列产品

2020-03-05

普西工业-PSAIC手套箱系列产品

2019-09-03

*普西北京固话变更通知-重要-统一使用：400 848 3369

2018-06-28

普西工业-台湾技术支持为您提供技术服务，零配件加工，设备系统装配，调试等服务

2017-05-04

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GGB Dual Microwave Probe(Model 40A, 50A, 67A, and 110H probes )

Features

    Two probes on one positioner
    Ground to signal spacing from 50 to 2540 microns
    Signal to signal spacing is user adjustable
    Same performance as individual Model 40A, 50A, 67A, and 110H probes
    Patented coaxial design
    Differential calibration substrates available for two, three and four port calibrations

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