PSAICSwin EFP/NFP/MFP/AMP四探针测试系统
PSAICSwin EFP/NFP/MFP/AMP Four Point Probe
应用：
系统运用四探针测量原理可以测量块状、片状半导体材料的径向和轴向电阻率，我公司产品具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好，测量范围广，结构设计紧凑，使用方便的特点，适合于对半导体、金属、绝缘体材料的电阻性能测试。
根据配置及操作将四探针测试系统分为：EFP系列简配型/ NFP系列 标准型四探针系统/ MFP系列（电动四探针测试系统）/ AFP系列自动四探针测试系统
注： MFP电动四探针测试系统可以电动控制探针上下移动，使探针的力度始终保持一致，基于窗口的操作软件易于操作和维护；
技术参数：
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主体型号
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PSAICSwin EFP/NFP/MFP/AMP
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探针控制
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手动或电动探针上下移动
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卡盘直径
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4寸/ 6寸/ 8寸
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卡盘材质
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聚四氟乙烯
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探针间距
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1.5mm(其它可选)
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探针材料
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钨/钢/铍铜
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尺寸
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360mm*220mm*283mm
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重量
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8.5kg
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配备设备
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电源表/电压表
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可选项
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加热卡盘/真空吸附卡盘/屏蔽箱/气体流量(氮气)/手动调节探针装置/仪表箱
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