PSAICSwin EFP/NFP/MFP/AMP四探针测试系统
PSAICSwin EFP/NFP/MFP/AMP Four Point Probe

应用：

系统运用四探针测量原理可以测量块状、片状半导体材料的径向和轴向电阻率，我公司产品具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好，测量范围广，结构设计紧凑，使用方便的特点，适合于对半导体、金属、绝缘体材料的电阻性能测试。 

根据配置及操作将四探针测试系统分为：EFP系列简配型/ NFP系列 标准型四探针系统/ MFP系列（电动四探针测试系统）/ AFP系列自动四探针测试系统

注： MFP电动四探针测试系统可以电动控制探针上下移动，使探针的力度始终保持一致，基于窗口的操作软件易于操作和维护；

技术参数：